新生兒缺氧缺血性腦病的預後

新生兒缺氧缺血性腦病的預後

　　(一) 後遺症

　　HIE的近期不良預後是早期新生兒死亡，遠期不良預後多為腦神經損害的後遺症。在存活病例中缺氧缺血越嚴重，腦病症狀持續時間越長者，越容易發生後遺症，且後遺症越重。後遺症常見的有發育遲緩、智力低下、痙攣性癱瘓、癫痫等。

　　(二) 提示預後不良的指征

　　1．持續的低Apgar評分。生後5分鐘Apgar評分為0～3分，10分鐘評分少於5分，是預後不良的敏感指標。重度窒息者，其病死率及神經系統後遺症隨Apgar評分的時間延長而增加。

　　2．出生後24小時內出現驚厥或持續驚厥者。

　　3．生後較早出現肌張力低下，且長期肌張力低下或由肌張力低下轉為伸肌張力增強者。

　　4．生後早期出現昏迷，有腦干損傷表現如中樞性呼吸衰竭，瞳孔改變、伸肌張力增強等及一周後異常神經症狀未消失者。

　　5．腦電圖持續異常，尤其呈周期性，多灶性或彌漫性改變者。

　　6．顱腦超聲檢查異常，特別是腦萎縮或腦實質囊性變者，或未成熟兒腦實質囊性變和腦室擴大者。

　　7．頭顱CT檢查有顱內出血者。